全自動顆粒分析系統是一種用于測量和分析物體顆粒特征的設備。它基于光學原理和圖像處理技術，可以對物體中的顆粒進行實時、準確地檢測和計數。
其運行原理如下：
激光照射：系統通過激光器發出一束單色、聚焦的激光，在待檢測樣品上形成一個細小的照射點。
散射信號接收：當激光照射到樣品表面時，顆粒會散射部分光線。探測器接收并記錄這些散射信號。
光學透鏡系統：系統使用透鏡將樣品上的散射信號集中到探測器上，以獲得清晰可見的圖像。
圖像處理與分析：通過高速圖像采集模塊，將獲取到的散射信號轉化為黑白二值圖像。然后利用圖像處理算法進行邊緣檢測、噪聲去除等操作，最終得到每個顆粒在圖像中的位置和大小信息。
顆粒參數計算：根據得到的顆粒位置和大小信息，系統可以計算出各種顆粒參數，如顆粒的直徑、圓形度、角度等。
數據分析和顯示：系統將計算得到的顆粒參數與預設標準進行比較，根據設定的閾值判斷顆粒是否符合要求。同時，可以通過軟件界面將數據以圖表或報告形式展示出來。
全自動顆粒分析系統可以廣泛應用于各種行業和領域，如制藥、食品加工、材料科學等，用于檢測和分析樣品中的顆粒特征，并提供可靠的質量控制和研究參考。
